兩條不同模場直徑的光纖連接時(shí)會(huì)出現(xiàn)過度損耗和偽增益。光纖模場直徑與區(qū)域大小相對應(yīng)，在該區(qū)域中光沿纖芯和包層散開。模場直徑不匹配會(huì)造成背向信號(hào)存在差異，這些差異與熔接點(diǎn)處的真實(shí)損耗無關(guān)。在測試含有不同類型或不同制造商生產(chǎn)的光纖鏈路時(shí)，單向OTDR曲線會(huì)由于測量方向的不同而在曲線上顯示損耗明顯減少(過度損耗)或增加(偽增益)。雙向分析會(huì)使用各事件的平均損耗生成一個(gè)事件表，提供精確測量值。

　　因此，對于單模光纖中的熔接損耗測量，在工程中通常建議使用雙向分析方法，以減少過度損耗和偽增益的影響。

　　FTB一400通用測試系統(tǒng)OTDR模塊的雙向分析僅適合用于離線操作，因而在分析之前，必須先獲取和儲(chǔ)存曲線。如果在一根光纖上以相反的方向獲得0TDR曲線，雙向分析可匹配對應(yīng)的事件。雙向分析即可以分析單波長曲線，也可以分析多波長曲線，其分析結(jié)果會(huì)顯示在雙向表中，其中包括了最重要的信息，即平均損耗。在A—B信息和B—A信息中，還可更改當(dāng)前軌跡設(shè)置，所進(jìn)行的改變將影響到軌跡的顯示。

　　進(jìn)行雙向分析的兩條曲線有許多限制條件，如果兩條曲線的條件不匹配，將出現(xiàn)錯(cuò)誤或告警消息。例如，事件表、折射率、余長系數(shù)、散射系數(shù)中存在任何矛盾，會(huì)顯示一條消息。

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